山西進(jìn)口高溫老化試驗真空無(wú)塵烤箱

山西進(jìn)口高溫老化試驗真空無(wú)塵烤箱

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

一、產(chǎn)品介紹

1. 產(chǎn)品名稱(chēng)：高溫試驗箱

2. 型號KB-100     

3. 樣品限制：

本試驗設備禁止：

易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗及儲存

腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗及儲存

生物試樣的試驗或儲存

強電磁發(fā)射源試樣的試驗及儲存

4、設備使用條件：

4.1、環(huán)境溫度：5℃～＋28℃（24小時(shí)內平均溫度≤28℃）

4.2、環(huán)境濕度：≤85%R.H

4.3、操作環(huán)境需在室溫28度以下且通風(fēng)良好，機器放置前后左右各80公分不可放置物品；

4.4、電源要求：A220（ ±10%）V/50HZ

二、技術(shù)指標Technical Specifications

1.容積和尺寸：

1.1標稱(chēng)內容積(L)：100L

1.2標稱(chēng)內箱尺寸（mm）：400*550*550

2、溫度指標：

2.1 溫度范圍：常溫 10℃～ 200℃

2.2 溫度波動(dòng)度：±1.0℃

2.3 溫度分辨率：±0.1℃

2.4 升溫速率：≥1℃/min（空載時(shí)）

2.5溫度偏差：≤±2℃

以上指標均為箱內無(wú)試樣負載情況下測試（有特殊說(shuō)明者除外）。

2.6 滿(mǎn)足試驗標準：

GB/T 2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

GJB 150.3-1986  高溫試驗

GB11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件

產(chǎn)品標準：

《高溫試驗箱技術(shù)條件》GB 11158-2008

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》GBT 2423.2-2008

注：產(chǎn)品具體參數細節機優(yōu)惠價(jià)格可詳談；另可根據客戶(hù)需求進(jìn)行定制