經(jīng)濟型高低溫冷熱沖擊試驗箱應用設計

經(jīng)濟型高低溫冷熱沖擊試驗箱應用設計

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

冷熱沖擊和高低溫循環(huán)箱  可靠性測試可程式蓄冷熱沖擊試驗箱特別適用于半導體電子器件做溫度破壞測試，主要測試材料結構在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續沖擊環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗箱根據試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區別在于試驗方式和內部結構不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chǎn)品在測試時(shí)是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過(guò)電機帶動(dòng)提籃運動(dòng)來(lái)實(shí)現高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動(dòng)的。

產(chǎn)品技術(shù)參數：

• 內箱尺寸（W×H×D）cm:	A:35 x 35 x 40 , B:50 x 40 x 40 ,C:60 x 40 x 45 , D:60 x 50 x 50 , E:70 x 60 x 60 ,F:80 x 80 x 80 ,G:100 x 100 x 100
  結構:	預冷箱、預熱箱、 測試箱、固定類(lèi)型的物體測試,可選擇2箱或3箱
  氣門(mén)裝置 :	強制的空氣裝置氣門(mén)
  內外箱材料 :	SUS #304 不銹鋼
  測試柵盤(pán): :	不銹鋼網(wǎng)架
  冷凍系統 :	復疊式制冷
  冷卻方式 :	水冷式
  工作環(huán)境溫度 :	10℃ ~ 35℃
  預熱溫度 :	+ 60℃ ~ + 200℃
  預冷溫度 :	- 10℃ ~ - 70℃
  高溫沖擊溫度 :	+ 60℃ ~ + 150℃
  低溫沖擊溫度 :	-10℃ ~ - 65℃
  溫度分布均勻度 :	±2.00℃ 以?xún)?/span>
  仿真負載(KG) :	A:2.5,  B:2.5,  C:5,  D:5,  E:5,  F:5,  G:10
  高溫沖擊3箱 :	Rt℃~ +150℃ / 5 MIN
  低溫沖擊3箱 :	RT℃~ -65℃ / 5 MIN
  高溫沖擊2箱 :	-40℃~ +150℃ / 5 MIN
  低溫沖擊2箱 :	+150℃~ --65℃ / 5 MIN
  預熱時(shí)間(分鐘) :	A:25min,  B:30min,  C:45min,  D:40min,  E:50min,  F:40min,  G:50min
  預冷時(shí)間(分鐘) :	A:60min,  B:75min,  C:80min,  D:85min,  E:85min,  F:90min,  G:100min
  溫度感傳器 :	T *4
  控制器 :	OYO-8226
  設定范圍 :	溫度: -100.00+200.00℃ / TIME : OH00M ~ 99H 59M / CYCLE : 0 CYCLE ~9999 CYCLE
  分辨率 :	0.01℃
  輸出型式 :	PID + SSR 控制模式
  PID + SSR 控制模式 :	（RS-232 )遠程監控管理系統 / Ln2液態(tài)氮快速降溫控制裝置
  電源 :	AC 3ψ380V , 50Hz

注：產(chǎn)品具體參數細節及優(yōu)惠價(jià)格可詳談；另可根據客戶(hù)需求進(jìn)行定制